NAOTAKE TOYAMA: "VARIATION IN THE EFFECTIVE RICHARDSON CONSTANT OF A METAL-SILICON CONTACT DUE TO METAL-FILM THICKNESS" JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 59. (1988)
NAOTAKE TOYAMA: "VARIATION IN THE EFFECTIVE RICHARDSON CONSTANT OF A METAL-SILICON CONTACT DUE TO METAL-FILM THICKNESS" JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 59. (1988)
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NAOTAKE TOYAMA：“金属-硅接触的有效理查森常数因金属-膜厚度而变化”应用物理学杂志。
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