"Instability of a SiGe/Si-hetero-interface in hetero-channel MOSFETs due to Joule heating,"
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“焦耳热导致异质通道 MOSFET 中 SiGe/Si 异质界面的不稳定性”
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and J. Murota
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Tsuchiya;M. Sakuraba;and J. Murota
