SOI 技術を用いた新型X線撮像分光器の開発 57 : PDD 構造を持つ大面積X線 SOI-CMOS 検出器 XRPIX の性能評価
SOI 技術を用いた新型X線撮像分光器の開発 57 : PDD 構造を持つ大面積X線 SOI-CMOS 検出器 XRPIX の性能評価
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采用SOI技术开发新型X射线成像光谱仪57：PDD结构的大面积X射线SOI-CMOS探测器XRPIX的性能评估
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鶴 剛 他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
泉大輔;森浩二;武田彩希;西岡祐介;行元雅貴;石田辰徳;岩切卯月;川島陸斗;眞方恒陽 (宮崎大学);鶴 剛 他
