Chromosome inner structure revealed by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy(FIB/SEM)
Chromosome inner structure revealed by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy(FIB/SEM)
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通过聚焦离子束/扫描电子显微镜（FIB/SEM）揭示染色体内部结构
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.UCHIYAMA and K.FUKUI
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. FUKUDA;K.KANEYOSHI;R. POONPERM;T.HAMANO;H.TAKATA;S.UCHIYAMA and K.FUKUI
