X-ray CTR scattering, measurements using conventional X-ray source to study semiconductor hetero-interfaces
X-ray CTR scattering, measurements using conventional X-ray source to study semiconductor hetero-interfaces
复制标题
X 射线 CTR 散射，使用传统 X 射线源进行测量以研究半导体异质界面
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y. TaKeda
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Maeda;M. TabucM;Y. TaKeda
