Thermoreflectance-based thermometry of silicon thin films with resonantly enhanced temperature sensitivity
Thermoreflectance-based thermometry of silicon thin films with resonantly enhanced temperature sensitivity
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DOI：
10.1364/oe.511938
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发表时间：
2024-01-01
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
Thompson，Dakotah
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shi，Changxing;Wang，Xinchao;Thompson，Dakotah
