X線CTR散乱の高速測定による相界面現象のその場追跡
X線CTR散乱の高速測定による相界面現象のその場追跡
复制标题
通过高速测量 X 射线 CTR 散射来原位跟踪相界面现象
DOI：
--
复制
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
白澤徹郎
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
白澤徹郎;Voegeli Wolfgang;荒川悦雄;亀沢知夏;高橋敏男;松下正;白澤徹郎
