Characterization of Carbon Nanotube Thin Film Transistors by Scanning Probe Microscopy
Characterization of Carbon Nanotube Thin Film Transistors by Scanning Probe Microscopy
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通过扫描探针显微镜表征碳纳米管薄膜晶体管
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Okigawa;et al
