True-3D strain mapping for assessment of material deformation by synchrotron X-ray microtomography
True-3D strain mapping for assessment of material deformation by synchrotron X-ray microtomography
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通过同步加速器 X 射线显微断层扫描评估材料变形的真实 3D 应变映射
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J.Ahn;H.Toda;M.Niinomi;T.Kobayashi
