K. Teshima, Y. Inoue, H. Sugimura, O. Takai: "Reduction of carbon impurities in silicon oxide films prepared by RF plasma-enhanced CVD"Thin Solid Films. 390. 88-92 (2001)

K. Teshima, Y. Inoue, H. Sugimura, O. Takai: "Reduction of carbon impurities in silicon oxide films prepared by RF plasma-enhanced CVD"Thin Solid Films. 390. 88-92 (2001)
复制标题

K. Teshima、Y. Inoue、H. Sugimura、O. Takai:“通过射频等离子体增强 CVD 制备的氧化硅薄膜中碳杂质的减少”固体薄膜。

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献