NBTI・RTNが論理回路およびSRAMの信頼性に与える影響について
NBTI・RTNが論理回路およびSRAMの信頼性に与える影響について
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关于NBTI/RTN对逻辑电路和SRAM可靠性的影响
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松本高士
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Minami;Y.Koizumi;S.Arakawa;T.Miyamura;et al;松本高士
