高解像度X線2次元検出器の性能評価とこれを用いた集積回路のX線イメージング
高解像度X線2次元検出器の性能評価とこれを用いた集積回路のX線イメージング
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高分辨率X射线二维探测器性能评估及集成电路X射线成像
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
矢橋牧名，初井宇記
中科院分区：
文献类型：
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作者：
亀島 敬，竹内晃久，上杉健太朗，工藤統吾，香村芳樹;玉作賢治;矢橋牧名，初井宇記
