局所ひずみを印加した自立SiメンブレンのUV光照射マイクロフォトルミネソセンス評価
局所ひずみを印加した自立SiメンブレンのUV光照射マイクロフォトルミネソセンス評価
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施加局部应变的自支撑硅膜的紫外光照射微光致发光评估
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中島 寛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
王 冬;楊 海貴;中島 寛
