Chemical Imaging of Resin Adhesive Interface using Soft X-ray Microscopy

Chemical Imaging of Resin Adhesive Interface using Soft X-ray Microscopy
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使用软 X 射线显微镜对树脂粘合剂界面进行化学成像

DOI:
10.2324/gomu.95.340
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发表时间:
2022
期刊:
NIPPON GOMU KYOKAISHI
影响因子:
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通讯作者:
初井 宇記
初井 宇記
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
山根 宏之;大浦 正樹;初井 宇記

文献摘要

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