Aberration Analysis of Cs-corrector System with Twin Hexapoles and Transfer Lens Doublet in Scanning Transmission Electron Microscope by Simple Ray Tracing Based on Geometrical Optics
Aberration Analysis of Cs-corrector System with Twin Hexapoles and Transfer Lens Doublet in Scanning Transmission Electron Microscope by Simple Ray Tracing Based on Geometrical Optics
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基于几何光学的简单射线追踪对扫描透射电子显微镜中双六极杆和双合透镜铯校正系统的像差分析
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
生田孝
中科院分区：
文献类型：
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作者：
川崎忠寛;市橋幹雄;松谷貴臣;木村吉秀;生田孝
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DOI：
10.1016/0029-554x(81)90488-2
发表时间：
1981
期刊：
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research
影响因子：
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作者：
H. Rose
通讯作者：
H. Rose
影响因子：
3.1
作者：
A. Crewe
通讯作者：
A. Crewe
六极校正磁性圆透镜的波电子光学特性
影响因子：
3.1
作者：
X. Jiye;Z. Shao;A. Crewe
通讯作者：
A. Crewe
电子光学的进展
DOI：
10.1007/978-3-662-07766-5_5
发表时间：
2003
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
H. Rose
通讯作者：
H. Rose
影响因子：
3.1
作者：
Z. Shao
通讯作者：
Z. Shao