Crack Tip dislocations Observed by High-Voltage Electron-Microscopy in Single Crystal Silicon

Crack Tip dislocations Observed by High-Voltage Electron-Microscopy in Single Crystal Silicon
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高压电子显微镜观察单晶硅中的裂纹尖端位错

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Proceedings of 16th International Microscopy Congress, Publication committee of IMC16 (Ed. by H. Ichinose and T. Sasaki)
影响因子：
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通讯作者：
K. Higashida and M. Tanaka
K. Higashida and M. Tanaka
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
M. Tanaka;K. Higashida;H. Nakashima;H. Takagi and M. Fujiwara;川本重雄;F. Kawashima;K. Higashida and M. Tanaka

文献摘要

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