CIC導体内部の偏流現象を誘起する素線軌跡の評価手法の検討
CIC導体内部の偏流現象を誘起する素線軌跡の評価手法の検討
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CIC导体内部诱发漂移现象的导线轨迹评估方法研究
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
森村 俊也
中科院分区：
文献类型：
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作者：
川田和周;本田拓馬，宮田洋佑， 久保田孝;森村 俊也
