X線回折法で表界面・薄膜・ナノ構造で何が分かるか / Surface, thin film, and nano structural information obtained using x-ray diffraction
X線回折法で表界面・薄膜・ナノ構造で何が分かるか / Surface, thin film, and nano structural information obtained using x-ray diffraction
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使用 X 射线衍射获得表面、薄膜和纳米结构信息
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂田修身
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Purohit;Prithvi Singh;Vinod Patidar;Y. Azuma;and K. K. Sud;Yoshiro AZUMA;坂田修身;坂田修身
