High-Speed Characterization of Surface, Interface, and Thinfilm Structures by Using Multi-Wavelength Dispersive X-ray Diffraction
High-Speed Characterization of Surface, Interface, and Thinfilm Structures by Using Multi-Wavelength Dispersive X-ray Diffraction
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使用多波长色散 X 射线衍射对表面、界面和薄膜结构进行高速表征
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tetsuroh Shirasawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
白澤徹郎;Voegeli Wolfgang;荒川悦雄;亀沢知夏;高橋敏男;松下正;白澤徹郎;Tetsuroh Shirasawa
