Depth-profiling the composition of bimetallic nanoparticles using medium energy ion scattering
Depth-profiling the composition of bimetallic nanoparticles using medium energy ion scattering
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使用中能离子散射对双金属纳米粒子的成分进行深度分析
DOI:
10.1016/j.susc.2010.10.022
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发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
1.9
通讯作者:
Gustafson J
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Gustafson J
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DOI:
--
发表时间:
1986
期刊:
影响因子:
--
作者:
J. Frenken;R. Tromp;J. V. D. Veen
通讯作者:
J. V. D. Veen
DOI:
--
发表时间:
1990
期刊:
影响因子:
--
作者:
S. Deckers;F. Habraken;W. F. Weg;A. D. V. D. Gon;J. V. D. Veen;J. Geus
通讯作者:
J. Geus
DOI:
--
发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
作者:
M. Hazama;Y. Kitsudo;T. Nishimura;Y. Hoshino;P. L. Grande;G. Schiwietz;Y. Kido
通讯作者:
Y. Kido
影响因子:
1.9
作者:
T. Okazawa;M. Fujiwara;T. Nishimura;T. Akita;M. Kohyama;Y. Kido
通讯作者:
T. Okazawa;M. Fujiwara;T. Nishimura;T. Akita;M. Kohyama;Y. Kido
影响因子:
1.9
作者:
Andrew R. Haire;J. Gustafson;A. G. Trant;T. Jones;T. Noakes;P. Bailey;C. Baddeley
通讯作者:
Andrew R. Haire;J. Gustafson;A. G. Trant;T. Jones;T. Noakes;P. Bailey;C. Baddeley