Development of NBTI and Channel Hot Carrier (CHC) Effect Models and their Application for Circuit Aging Simulation
Development of NBTI and Channel Hot Carrier (CHC) Effect Models and their Application for Circuit Aging Simulation
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NBTI和沟道热载流子（CHC）效应模型的发展及其在电路老化仿真中的应用
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Miura-Mattausch
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Ma;H. J. Mattausch;K. Matsuzawa;S. Yamaguchi;T. Hoshida;M. Imade;R. Koh;T. Arakawa;M. Miura-Mattausch
