Evaluation of microcrystalline silicon oxide thin films for application as a hole selective contact for c-Si solar cells
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复制标题
微晶硅氧化物薄膜用作晶硅太阳能电池空穴选择性接触的评估
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kazuyoshi Nakada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Akamatsu;K. Fujita;A. Sen Gupta;A. Togo;K. Tanaka;I. Tanaka;V. Gopalan;Kazuyoshi Nakada
