MIS-CELIV法による有機半導体薄膜の正孔移動度評価
MIS-CELIV法による有機半導体薄膜の正孔移動度評価
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使用 MIS-CELIV 方法评估有机半导体薄膜的空穴迁移率
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中山健一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
片桐千帆;中山健一
