Measurement of Strain in GaN(0001) Substrate by using Kikuchi line of RHEED
Measurement of Strain in GaN(0001) Substrate by using Kikuchi line of RHEED
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使用 RHEED 的菊池线测量 GaN(0001) 衬底中的应变
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.TOSAKA and K.KOYAMA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. SHIGETA ;J. NAKATA;A.TOSAKA and K.KOYAMA
