Nanoscale electrical properties of ZnO/NiO co-deposited thin film investigated by Scanning Probe Microscopy techniques
Nanoscale electrical properties of ZnO/NiO co-deposited thin film investigated by Scanning Probe Microscopy techniques
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通过扫描探针显微镜技术研究 ZnO/NiO 共沉积薄膜的纳米级电学特性
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. S. Borowiak;O. Nakagawara;L. Mingyu;G. Tan;H. Tanaka
