多層型HTS薄膜の遮蔽電流密度解析：内部クラックの検出可能性
多層型HTS薄膜の遮蔽電流密度解析：内部クラックの検出可能性
复制标题
多层高温超导薄膜的筛选电流密度分析：检测内部裂纹的可能性
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
高山彰優，齋藤歩，神谷淳
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ayumu Saitoh;Teruou Takayama and Atsushi Kamitani;齋藤歩，高山彰優，神谷淳;神谷淳，高山彰優;高山彰優，齋藤歩，神谷淳
