Instability of Indium Zinc Oxide Thin-Filmnbsp;Transistors Under Transmissionnbsp;Line Pulsed Stress

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氧化铟锌薄膜的不稳定性

DOI:
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发表时间:
2014
影响因子:
4.9
通讯作者:
李斌
李斌
中科院分区:
工程技术2区
文献类型:
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作者:
Qian Shi;刘玉荣;恩云飞;李斌

文献摘要

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