CERN120GeVハドロンビームを用いたSOIピクセル検出器のビーム試験
CERN120GeVハドロンビームを用いたSOIピクセル検出器のビーム試験
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使用 CERN120GeV 强子束进行 SOI 像素探测器的束流测试
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小貫良行
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松田太一;他;小森文夫;I.Hamada;Antonino Flachi;小貫良行
