エピタキシャル成長による4H-SiC CMOS Well形成

エピタキシャル成長による4H-SiC CMOS Well形成
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通过外延生长形成 4H-SiC CMOS 阱

DOI:
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发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
黒木 伸一郎
黒木 伸一郎
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
甲斐 陶弥 ;児島一聡;志摩 拓真;大島 武;田中 保宣;黒木 伸一郎

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