Resolution and Noise Factor of Distance Measurement Using Two-photon Absorption Process in Silicon Avalanche Photodetector
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硅雪崩光电探测器双光子吸收过程距离测量的分辨率和噪声系数
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et. al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yosuke Tanaka;et. al.
