Defect characterization and control for Site-on-insulator
Defect characterization and control for Site-on-insulator
复制标题
绝缘子现场的缺陷表征和控制
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Nakashima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D.Wang;H.Yang;H.Nakashima
