C. -H. Shin and M. Ohtsu: "Improved Allan Variance Real Time Processing System to Measure Frequency Tracking Error of Hetero-dyne Optical Phase-Locked Loops" Electron. Letters. 26-19. 1571-1572 (1990)
C. -H. Shin and M. Ohtsu: "Improved Allan Variance Real Time Processing System to Measure Frequency Tracking Error of Hetero-dyne Optical Phase-Locked Loops" Electron. Letters. 26-19. 1571-1572 (1990)
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C.-H。
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