Inspection of pseudo normally-off operation of ferroelectric gate diamond FET with partially O-terminated channel structure
Inspection of pseudo normally-off operation of ferroelectric gate diamond FET with partially O-terminated channel structure
复制标题
具有部分 O 端接沟道结构的铁电栅极金刚石 FET 的伪常关操作检查
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takeshi Kawae
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吉岡 希利子;木野 彩子;松浦 祐司;Takeshi Kawae
