InAlGaN超薄势垒层结构高频GaN HEMT器件

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DOI:
10.19623/j.cnki.rpsse.2017.05.001
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发表时间:
2017
期刊:
固体电子学研究与进展
影响因子:
--
通讯作者:
陈堂胜
陈堂胜
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
朱广润;孔月婵;张凯;郁鑫鑫;陈堂胜

文献摘要

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