Effect of surface roughness on the measurement of electron impact inner-shell ionization cross sections using thick-target method
Effect of surface roughness on the measurement of electron impact inner-shell ionization cross sections using thick-target method
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表面粗糙度对厚靶法测量电子轰击内壳层电离截面的影响
DOI：
10.1016/j.nimb.2008.09.011
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发表时间：
2008-12
影响因子：
1.3
通讯作者：
An, Zhu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Tian, Lixia;An, Zhu
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电子或正电子碰撞测量内壳层电离截面厚靶法中的反演问题
影响因子：
2.9
作者：
An, Zhu;Hou, Qing
通讯作者：
Hou, Qing
影响因子：
2.9
作者：
S. Segui;M. Dingfelder;F. Salvat
通讯作者：
S. Segui;M. Dingfelder;F. Salvat
影响因子：
2.9
作者：
M. A. Uddin;A. Haque;M. Billah;A. Basak;K. Karim;B. Saha
通讯作者：
M. A. Uddin;A. Haque;M. Billah;A. Basak;K. Karim;B. Saha
DOI：
10.1088/0953-4075/23/12/020
发表时间：
1990-06
期刊：
Journal of Physics B
影响因子：
--
作者：
R. Mayol;F. Salvat
通讯作者：
R. Mayol;F. Salvat
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
F. Salvat;J. Fernández-Varea;J. Sempau;Facultat de Fisica
通讯作者：
F. Salvat;J. Fernández-Varea;J. Sempau;Facultat de Fisica