Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks

Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks
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使用人工神经网络重新生成 BIST 测试模式

DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
影响因子：
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通讯作者：
Yoshinobu Higami
Yoshinobu Higami
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Tsutomu Inamoto;Yoshinobu Higami

文献摘要

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