鈴木 賢治: "CVD法によるTiC,SiC被覆膜の残留応力測定" 日本材料学会第28回X線材料強度に関する講演会講演論文集. 33-39 (1991)
鈴木 賢治: "CVD法によるTiC,SiC被覆膜の残留応力測定" 日本材料学会第28回X線材料強度に関する講演会講演論文集. 33-39 (1991)
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Kenji Suzuki：“通过 CVD 方法测量 TiC 和 SiC 涂层”第 28 届材料科学学会 X 射线材料强度会议论文集，日本 33-39（1991 年）。
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