Nanoscale Operando observation of graphene transistor by using photoelectron emission microscopy
Nanoscale Operando observation of graphene transistor by using photoelectron emission microscopy
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使用光电子发射显微镜对石墨烯晶体管进行纳米级操作观察
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Fukidome
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Kasai;Y. Haruyama;T. Yamada;M. Akiba;Y. Tominari;T. Kaji;T. Terui;F. Peper;S. Tanaka;Y. Katagiri;H. Kikuchi;Y. Okada-Shudo;A. Otomo;谷尾宣久;H. Fukidome
