Statistical-Variability Compact-Modeling Strategies for BSIM4 and PSP
Statistical-Variability Compact-Modeling Strategies for BSIM4 and PSP
复制标题
DOI：
10.1109/mdt.2010.53
复制
发表时间：
2010-03
影响因子：
--
通讯作者：
B. Cheng;D. Dideban;N. Moezi;C. Millar;G. Roy;Xingsheng Wang;Scott Roy;A. Asenov
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
B. Cheng;D. Dideban;N. Moezi;C. Millar;G. Roy;Xingsheng Wang;Scott Roy;A. Asenov
统计模型参数的生成策略是变率感知设计的关键。基于3D原子仿真结果，本文评估了两个行业标准的紧凑型器件模型的统计参数生成的准确性。
The strategy to generate statistical model parameters is essential for variability-aware design. Based on 3D atomistic simulation results, this article evaluates the accuracy of statistical parameter generation for two industry-standard compact device models.