In site FI BEtching and Conduction Measurement of Microstructures on a Topological Thin Film
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复制标题
拓扑薄膜上微结构的现场 FI B 蚀刻和传导测量
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shuji_Hasegawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Naoya Fukui;Toru Hirahara;Shuji_Hasegawa
