Ein Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine Anwendung
Ein Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine Anwendung
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用于电子设备和测量的双棱镜干涉仪
DOI：
10.1007/bf01378072
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发表时间：
1961
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Keller
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Keller
Zwischen den beiden Teilbündeln eines elektronenoptischen Biprisma-Interferometers wird durch ein stufenförmiges Phasenobjekt ein Gangunterschied hervorgerufen。通过对干涉条纹的检验，可以得出光电转换指数，并对物体内部的势能进行了韦尔登。In Interferometer können die Messungen bei geringer Objektbelastung and an einer greßen Anzahl von Interferenzstreifen durchgeführt韦尔登.Das Phasenobjekt besteht aus einer Trägerfolie，auf die eine gleichmäßige Grundschicht and eine Stufenschicht im Hochvakuum aufgedampft沃登sind. Das durch durch eine netzförmige Schablone erzeugte Stufenmuster behurkt im Interferogramm eine sich periodisch wiederholmet Verbung des Interferenzstreifen-systems.所有的圣诞树都有一个装饰。由于该材料是在Träger上的基础上增加的，因此，该Interferogramm将通过该材料的连接而增加。本文对Kohle、Al、Cu、Ag、Au等材料进行了实验研究，结果表明，在对物体进行表面处理时，Kohle、Cu、Ag、Au等材料的内部增强势，以及在干涉仪中的强度和衍射强度，与Ag、Au等材料的增强势无关。Eine wesentlich stärkere Objektbelastung als die bei den vorliegenden Untersuchungen im Interferometer verwandte kann zu Ónderungen des inneren Potentials führen。
Zwischen den beiden Teilbündeln eines elektronenoptischen Biprisma-Interferometers wird durch ein stufenförmiges Phasenobjekt ein Gangunterschied hervorgerufen. Aus der Verschiebung der Interferenzstreifen kann der elektronenoptische Brechungsindex und damit das innere Potential des Objektmaterials ermittelt werden. Im Interferometer können die Messungen bei geringer Objektbelastung und an einer großen Anzahl von Interferenzstreifen durchgeführt werden.Das Phasenobjekt besteht aus einer Trägerfolie, auf die eine gleichmäßige Grundschicht und eine Stufenschicht im Hochvakuum aufgedampft worden sind. Das durch eine netzförmige Schablone erzeugte Stufenmuster bewirkt im Interferogramm eine sich periodisch wiederholende Verschiebung des Interferenzstreifen-systems. Als Trägerfolie eignet sich besonders eine aufgedampfte Kohlefolie. Sind die Stufen ohne Grundschicht auf den Träger aufgedampft, so wird das Interferogramm durch die Kontaktspannung zwischen den beiden Materialien verändert. Dies wird an den Materialpaaren Kohle-Kupfer und Silber-Kupfer demonstriert.Die gemessenen inneren Potentiale von aufgedampfter Kohle, Al, Cu, Ag und Au waren von der Dicke der Objekte, der Beschleunigungsspannung, der Intensität und Dauer der Bestrahlung während des Meßvorganges im Interferometer nicht abhängig, bei Ag und Au jedoch von der Aufdampfgeschwindigkeit. Eine wesentlich stärkere Objektbelastung als die bei den vorliegenden Untersuchungen im Interferometer verwandte kann zu Änderungen des inneren Potentials führen.