An inequality of a Stekloff eigenvalue by the method of defect
An inequality of a Stekloff eigenvalue by the method of defect
复制标题
基于缺陷法的 Stekloff 特征值不等式
DOI：
10.1090/s0002-9939-1969-0235323-5
复制
发表时间：
1969
影响因子：
1
通讯作者：
V. Sigillito
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Kuttler;V. Sigillito
