Y.Otani 他: "Disk inspection system by two dimensional birefringence distribution measurement"Proc.SPIE. 4081. 17-20 (2000)
Y.Otani 他: "Disk inspection system by two dimensional birefringence distribution measurement"Proc.SPIE. 4081. 17-20 (2000)
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Y.Otani 等人：“通过二维双折射分布测量的磁盘检查系统”Proc.SPIE. 4081. 17-20 (2000)
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