Tomoya Ogawa: "A comment on defects n GaAs crystals obseved by infrared light scattering tomography and IR absorption microscopy," Japan. J. Applied Physics,. 25. L916-L917 ((1986))
Tomoya Ogawa: "A comment on defects n GaAs crystals obseved by infrared light scattering tomography and IR absorption microscopy," Japan. J. Applied Physics,. 25. L916-L917 ((1986))
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Tomoya Okawa：“对通过红外光散射断层扫描和红外吸收显微镜观察到的 GaAs 晶体缺陷的评论”，日本。
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