Detection of Electron- and Hole-traps in SiO 2 /Si by ESCA
Detection of Electron- and Hole-traps in SiO 2 /Si by ESCA
复制标题
ESCA 检测 SiO 2 /Si 中的电子陷阱和空穴陷阱
DOI：
10.2320/jinstmet1952.60.5_469
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发表时间：
1996
影响因子：
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通讯作者：
F. Yano
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Iwata;N. Yamamoto;F. Yano
