X‐Ray Examination of the Binary System CdTe‐CdSe
X‐Ray Examination of the Binary System CdTe‐CdSe
复制标题
二元系统 CdTe-CdSe 的 X 射线检查
DOI：
--
复制
发表时间：
1964
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
J. Litwin
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Litwin
用Debye-Scherrer粉末法研究了CdTe-CdSe固溶体。发现晶格常数随组成而变化。结果表明，在所研究的材料中，立方和六方结构都形成了替位晶体。在一定的组成范围内，两种结构分别存在。解决方案中不会出现新相。
CdTe-CdSe混合物在Debye-Scherrer-Verfahrens的帮助下进行。Gitterconstante and dert sich mit der Zusammensetzung.这是一个很大的问题，在结构的后面，有一个立方体和一个六边形，替换是一个很大的问题。在一个巨大的错误中，结构得到了改善。洛松没有新的阶段。
Solid solutions of CdTe-CdSe are investigated by the Debye-Scherrer powder method. The lattice constants are found to vary with composition. It was concluded that in the investigated material, both cubic and hexagonal structures form substitutional crystals. In a certain composition range both structures exist separately. No new phase appears in the solution.
CdTe-CdSe Mischkristalle wurden mit Hilfe des Debye-Scherrer-Verfahrens untersucht. Die Gitterkonstante andert sich mit der Zusammensetzung. Es wird vermutet, das in dieser Substanz beide Strukturen, die kubische und die hexagonale, Substitutionskristalle bilden. In einem gewissen Mischungsbereich existieren beide Strukturen getrennt. Es entsteht keine neue Phase in der Losung.