和周波発生分光法によるOFETのゲートバイアスストレスの観測
和周波発生分光法によるOFETのゲートバイアスストレスの観測
复制标题
使用和频发生光谱法观察 OFET 栅极偏置应力
DOI：
--
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
宮前孝行
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
大橋直弥;磯邉岳晃;田中有弥;石井久夫;宮前孝行
