Keiichi Umeda: "Surface Potential Measurement of Oligothiophene Ultrathin Films by Kelvin Probe Force Microscopy"Jpn. J. Appl Phys.. Vol.40, No.6B. 4381-4383 (2001)
Keiichi Umeda: "Surface Potential Measurement of Oligothiophene Ultrathin Films by Kelvin Probe Force Microscopy"Jpn. J. Appl Phys.. Vol.40, No.6B. 4381-4383 (2001)
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Keiichi Umeda：“通过开尔文探针力显微镜测量低聚噻吩超薄膜的表面电位”Jpn。
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