Measurement and Deposition of Nanometer-scale Cu dot Using an Atomic Force Microscope with a Nanopipette Probe in Liquid Condition
Measurement and Deposition of Nanometer-scale Cu dot Using an Atomic Force Microscope with a Nanopipette Probe in Liquid Condition
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在液体条件下使用带有纳米移液管探针的原子力显微镜测量和沉积纳米级铜点
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Futoshi Iwata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
So Ito;Koji Yamazaki;Futoshi Iwata
