基于摄动法研究短沟道SOI MOSFET亚阈值特性
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DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
褚蕾蕾
中科院分区：
文献类型：
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作者：
高珊;金林;陈军宁;褚蕾蕾
